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光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*!

更新時(shí)間:2024-06-27

光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*!可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備用于試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。

光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*!

可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備適用范圍:

    光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*!滿足太陽光電模塊(晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型)的設(shè)計(jì)驗(yàn)證,讓模塊能夠在一般氣候下長(zhǎng)期操作20年以上的規(guī)范要求,以確認(rèn)太陽能電池能夠承受高溫高濕之后隨級(jí)的零下溫度影響,以及對(duì)于溫度重復(fù)變化時(shí)引起的疲勞和熱失效,另外確定太陽能電池能夠抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力,其試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)與能力需滿足相關(guān)規(guī)范:(IEC61215、IEC61646、IEC62108、UL1703、IEEE1513、IEC61730)的要求。

 

可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備的規(guī)格型號(hào)

型號(hào)

TS-80
AF

TS-150
AF

TS-225
AF

TS-408
AF

TS-800
AF

TS-1000
AF

內(nèi)部尺寸W×H×Dcm

40×50×40

50×60×50

60×75×50

60×85×80

100×100×80

100×100×100

外部尺寸W×H×Dcm

120×165×115

130×170×125

140×185×130

165×195×155

185×200×175

190×210×185

溫度范圍

低溫:A25;B0;C-20D-40;E-60;F-70/高溫:150

濕度范圍

20%—98% R.H.10%98%R.H);(5%98%R.H為特殊選用條件)

溫濕度解析精度/
分布精度

0.1;0.1%R.H./±2.0;±3.0%R.H.

 

溫濕度控制精度

±0.5;±2.5%R.H.

升溫/降溫時(shí)間

升溫約4.0/分鐘 ;降溫約1.0/分鐘

內(nèi)外部材質(zhì)

內(nèi)外箱材質(zhì)為SUS304#不銹鋼板制

 

保溫材質(zhì)

耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料

冷卻系統(tǒng)

氣冷式/單段壓縮機(jī)(-20); 雙段壓縮機(jī)(-40—-70

安全保護(hù)裝置

無熔絲開關(guān)、壓縮機(jī)過載保護(hù)、冷媒高低壓保護(hù)、超濕度超溫度保護(hù)、
保險(xiǎn)絲、故障警告系統(tǒng)、缺水報(bào)警保護(hù)

 

操作孔內(nèi)置玻璃門(選購),記錄器(選購),觀視窗,50mm測(cè)試孔,
PL箱內(nèi)燈,隔板,干濕球紗布,腳輪,水平腳架

 

AC220V 50/60Hz & 1 , AC380V ,50/60Hz 3

重量(大約)

150KG

180KG

250KG

350KG

500KG

520KG

 

          

 

可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備特點(diǎn):

1.應(yīng)用于太陽能電池模塊的可靠度試驗(yàn),是仿真陸上太

2.陽光電模塊(晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型)的設(shè)計(jì)驗(yàn)證,讓模塊能夠在一般氣候下長(zhǎng)期操

作20年以上,規(guī)范要求太陽能電池需進(jìn)行:Damp

3.Heat(濕熱測(cè)試),以確認(rèn)太陽能電池能夠承受高溫高濕之后的溫度影響,確定太陽能電池能夠抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力,其試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)與

備注:可按照客戶要求訂做非標(biāo)尺寸)

    以上是關(guān)于艾思荔可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備的相關(guān)參數(shù),如需了解更多關(guān)于可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備保養(yǎng)、維護(hù)、維修等信息,請(qǐng)!

氙燈老化試驗(yàn)箱: http://www.ybzhan.cn/st34199/erlist_191649.html 

紫外線老化試驗(yàn)箱: http://www.ybzhan.cn/st34196/sale_904317.html 

光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*!

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